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    重点设备介绍 网站首页>重点设备介绍

    聚焦离子束(FIB)


    型号及主要参数:

    厂家:FEI(美国)

    型号:FEI-Scios 2 Hivac

    主要参数:

    离子束分辨小于3nm@30KV

    电子束分辨率:workspace<1nm@15KV,workspace<1.6nm@15KV

    样品XY方向移动范围不低于110nm,Z方向不低于60 nm,可绕Z轴旋转任(360°

    意角度倾斜角度T范围不小于-1590°


    用途及功能:

    扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

    聚焦离子束用于样品微纳米尺度下的切割、表面修饰、TEM制样

    刻蚀能谱仪主要用于样品元素分析


    特点:

    离子束与电子束双束,实现聚焦离子束FIB切割与SEM形貌同步观察


    扫描电子显微镜(SEM)


    型号及主要参数

    厂家:ZEISS(德国)

    型号:GEMINI 300

    主要参数:

    分辨率:0.7 nm@15 KV,1.2nm @15 KV

    放大倍率:12x-2000000x

    加速电压:0.2-30kV

    五轴样品台:130 mm (X方向), 130 mm (Y方向), 50 mm (Z方向),-4°-70° (倾斜),360° (旋转)


    用途及功能:

    扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

    能谱仪主要用于样品元素分析


    特点:

    高分辨表面形貌成像


    X射线光电子能谱仪(XPS)
    紫外光电子能谱仪(UPS)



    型号及主要参数

    厂家:thermofisher(美国)

    型号:ESCALAB Xi+

    主要参数:

    XPS能量分辨率≤0.43 eV

    灵敏度: 大面积XPS,  Ag3d5/2(FWHM≤1.0 eV)强度大于106CPS

    角分辨ARXPS分析

    紫外光电子能谱(UPS)


    用途及功能:

    用于粉末、薄膜、块状等各种有机无机材料的表面几个原子层(1-10 nm)的化学组成、价态的深度剖析、成像分析及功函数分析与表征。


    特点:

    高分辨XPS,UPS


    X射线衍射仪(XRD)




    型号及主要参数

    厂家:Bruker(德国)

    型号:D8 ADVANCE

    主要参数:

    X射线光管:Cu靶陶瓷X光管,功率2.2 KW

    扫描方式:立式θ/θ测角仪

    转动范围:-10°-168°,最小步长:0.0001°

    能量色散阵列探测器


    用途及功能:

    物相定性定量分析

    微光结构分析(微晶尺寸、微观应力)

    粉末数据结构与结构精修

    小角度X射线散射


    特点:

    整列探测器,可测试小角度XRD


    原子力显微镜(AFM)




    型号及主要参数

    厂家:Bruker(德国)

    型号:Dimension ICON

    主要参数:

    XY方向扫描范围90μm x 90μm,

    垂直方向扫描范围10μm,

    样品尺寸可达直径210mm,厚度15mm


    用途及功能:

    表面形貌、粗糙度、相图测试

    力曲线等力学性质测试

    电学性质如静电力显微镜(EFM)、开尔文探针力显微镜(KPFM)、压电力显微镜(PFM)、导电原子力显微镜测试(C-AFM)


    特点:

    高分辨形貌成像、电学性能测试??槿鏓FM、PFM、KPFM、C-AFM


     核磁共振谱仪(NMR)



    型号及主要参数
    厂家:Bruker(德国)
    型号:AVANCE NEO 400MHz
    主要参数:
    射频频率范围:6-440MHz,频率分辨率≤0.005Hz
    灵敏度:1H≥500:1,13C≥220:1,15N≥25:1,31P≥150:1,19F≥500:1
    可测C13DEPT,二维谱Cosy、Noesy、HMBC、HSQC
    
    用途及功能:
    主要应用于有机化合物分析与性能研究
    
    
    特点:
    
    Bruker全新谱仪,快速出核磁结果
    
    
                              激光共聚焦拉曼光谱仪(Raman)
                   
    
    型号及主要参数
    
    厂家:Renishaw(英国)
    型号:InVia Spectrometer
    主要参数:
    532 nm、785 nm波长激光器,激光光斑小于0.8 μm
    拉曼频移范围:532 nm包含50cm-1-9000cm-1,785nm包含50 cm-1-4000 cm-1
    灵敏度:不低于30:1,能观察到硅的三阶峰及四阶峰
    光谱重复性:优于±0.02cm-1,可实现mapping功能
    
    用途及功能:
    主要应用于各种物质的分子组成、结构及相对含量分析,实现对物质的鉴别和定性研究
    
    
    特点:
    
    532 nm,785 nm双波长激光器,拉曼Mapping成像
    
    
    联系方式:
    
    
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